日時：5月16日（火）10：30〜12：00 Cisco Web ex によるネット配信．
プログラム
1. 過渡熱測定の加熱時間と冷却時間の関係 （10：30〜12：00）
原 智章 （シーメンス株式会社）
過渡熱測定は半導体の発熱源（ジャンクション）から無限放熱体（アンビエント）に至る「放熱経路を明らかにする虫眼鏡」として広く実施されてきている。
測定には試験体を一旦加熱する必要があるが，加熱時間は測定対象物のジャンクション温度が飽和するまで加熱する必要があるとされている。
それを満たさないとどうなるか，また，加熱時間と冷却時間の長さの配分を変えるとどうなるのか示し，推奨する時間設定方法を紹介する。
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